PCBP 探頭用于檢測帶孔物體（如發(fā)動機零件、容器和管道等)，這些 物體的隱藏特征只能通過將探頭置入到腔體內(nèi)進行檢測。 折反射（折射 + 反射）式光學(xué)設(shè)計可提供的分辨率遠高于光纖探頭， 并能夠?qū)φ麄€腔體拍攝 360° 內(nèi)部圖像。內(nèi)孔探頭可通過機器人臂或 S.C.A.R.A. 操作來掃描極深的腔體。內(nèi)置光源使該設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊，并適 用于借助全景三角測量技術(shù)的簡單 3D 應(yīng)用。
主要優(yōu)勢
檢測腔體內(nèi)部 可清晰查看隱藏的內(nèi)部特征和缺陷。
高分辨率 采用折反射式設(shè)計，能夠在非常寬的視角范圍內(nèi)探測細微缺陷。
缺陷檢驗 使用直接照明檢測粗糙形變。
表面缺陷放大 直接與間接照明結(jié)合使用，可凸顯微小及肉眼難以察覺到的缺陷。
小直徑檢查 低至 5.5 mm。
